несправності, що призводять до зміни логічних функ­цій, які реалізуються цифровою структурою пристрою

несправності, виявлені в результаті дії завад

несправності, що пов'язані з видом вхідних тестових послідовностей Ц або МПП і призводять до спотворення тест-векторів контрольованих сигналів, відповідних реак­цій порівняно з еталонними