Шукаєте відповіді та рішення тестів для Основи наноматеріалознавства [03727]? Перегляньте нашу велику колекцію перевірених відповідей для Основи наноматеріалознавства [03727] в vns.lpnu.ua.
Отримайте миттєвий доступ до точних відповідей та детальних пояснень для питань вашого курсу. Наша платформа, створена спільнотою, допомагає студентам досягати успіху!
Чи правильним є твердження?
Атомно-силовий мікроскоп може працювати в контактному режимі з поверхнею, основну роль відіграють сили відштовхування електронних оболонок атомів зонда і поверхні, і в «безконтактному» режимі, коли зонд на більшій відстані, і домінують сили
Якого розміру наночасточки вимірюють за допомогою мас-спектрометра?
Чи є правильним твердження?
Фундаментальна відмінність між атомно-силовим мікроскопом і сканувальним тунельним мікроскопом, полягає в тому, що другий вимірює тунельний струм між зондом і поверхнею, а перший силу взаємодії між ними.
На якій відстані рухається зонд відносно поверхні сканування?
Чи правильним є твердження?
Атомно-силові мікроскопи пристосовані для дослідження будь-яких матеріалів, у тому числі таких, що не проводять електричний струм.
Які режими сканування застосовують в сканувальному тунельному мікроскопі?
Чи правильним є твердження?
В коливальній спектроскопії аналізують поведінку фотонів, пов'язаних з переходами між коливальними рівнями енергії молекул і твердих тіл, зазвичай лежать в інфрачервоному діапазоні частот від 2 до 12·10
Чи правильним є твердження: оскільки в приладі застосовують тунельний ефект, то його можна використовувати для дослідження будь-яких матеріалів.
Чи є актуальним твердження: можливості методу трансмісійної електронної мікроскопії значно розширює використання «аналітичної електронної мікроскопії», що поєднує унікальні можливості зображення з високою роздільною здатністю і хімічного аналізу (рентгенівської енергодисперсійної спекроскопіі енергетичних втрат електронів) з локальністю до 1 нм.
Який недолік мають плівки графену?